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實(shí)驗(yàn)參數(shù)
圖1. 力測量過程圖片（同時(shí)視頻記錄）
實(shí)驗(yàn)方法
? 將兩個(gè)測試粒子放置在接觸位置，并被Tweez光阱捕獲（TT1-左側(cè)和TT2-右側(cè)），
? 光阱TT1的光阱剛度（相對強(qiáng)度0.4）通過測量顆粒布朗運(yùn)動(dòng)來確定（樣本大?。?0-20 k幀對應(yīng)于1-2分鐘的測量時(shí)間），
? 通過使用生成的Tweez運(yùn)動(dòng)控制軌跡（速度約為0.8μm/s，以避免流體動(dòng)力效應(yīng)），使得左側(cè)粒子（TT1捕獲）在接觸位置和被光阱TT2（相對強(qiáng)度1.0）捕獲的粒子面間距約為3μm的位置之間往復(fù)運(yùn)動(dòng)，
? 通過Tweez跟蹤過程記錄光阱TT1捕獲的測試粒子的位置和光阱TT2的位置，
? 根據(jù)所需的信噪比，在多個(gè)循環(huán)中重復(fù)測量，從而可以評估/平均靠近和收縮部件的力，
? 實(shí)時(shí)提供低采樣率測量預(yù)覽，以保持對測量環(huán)境的控制（即可能的漂移、不必要的物體干擾-細(xì)菌等）
? 停止Tweez跟蹤過程后，即可獲得全采樣率測量結(jié)果（無需視頻錄制和后處理），
? 測量數(shù)據(jù)集保存在格式化文本文件中，可由任何商用數(shù)據(jù)分析軟件包（MathLabTM、OriginTM等）進(jìn)行分析。
 圖2. 靜止粒子的位置跟蹤數(shù)據(jù)和光阱TT2的往復(fù)運(yùn)動(dòng)軌跡
實(shí)驗(yàn)參數(shù)
? 光阱TT1的光阱剛度系數(shù)，通過測量捕獲的靜止測試粒子1獲得，
? 作用在靜止測試粒子1上的計(jì)算/平均力與表面之間的關(guān)系，粒子1和2之間的距離–圖3，
? 測量和數(shù)據(jù)分析時(shí)間：約30分鐘（不含樣品制備過程）
圖3. 復(fù)合溶劑對粒子間作用力的影響
Tweez305系列光鑷產(chǎn)品鏈接：Tweez300高速多光阱納米光鑷與測力平臺
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