測量設(shè)置
? 測試顆粒：二氧化硅，直徑2.5微米
? 實驗介質(zhì)：水
? 力的產(chǎn)生：壓電位移臺-等速往復(fù)運動：頻率1 Hz，振幅22μm，
? 數(shù)據(jù)采集頻率：200 fps。
圖1. 多點測力快照(可記錄視頻)
測量方法
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將5個測試粒子放置在目標位置，并用不同強度的Tweez光阱捕獲，
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光阱的剛度系數(shù)通過測量粒子布朗運動來確定（樣本大?。?0-20 k幀對應(yīng)于1-2分鐘的測量時間），
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通過啟動Tweez跟蹤過程進行測量，
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實時提供低采樣率測量結(jié)果預(yù)覽，以保證對測量過程的控制（即可能的漂移、不必要的物體干擾-細菌等）
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停止跟蹤過程后，即可獲得全采樣率測量結(jié)果（無需視頻錄制和后處理），
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測量數(shù)據(jù)集保存在格式化文本文件中，可由任何商用數(shù)據(jù)分析軟件包（MathLabTM、OriginTM等）進行分析。
圖2a. 典型數(shù)據(jù)集：被不同類型陷阱捕獲的粒子的跟蹤位置相對強度（見圖例）
圖2b. 捕捉關(guān)閉時粒子的跟蹤位置-粒子隨流體移動（壓電位移臺）
測量結(jié)果
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光阱彈簧常數(shù)（通過測量布朗運動獲得）-圖3a
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計算力-圖3b，
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測量和數(shù)據(jù)分析時間：約30分鐘（不包括樣品制備）
圖3a. 光阱剛度系數(shù)與激光相對強度-同時測量圖1所示的5個光阱，并通過Tweez-Brownian勢能圖工具計算。
圖3b. 作用于不同激光強度光阱捕獲的粒子的力（軌跡TT2–TT4每行數(shù)據(jù)逐次上移3pN）。對等速（三角形）波形的響應(yīng)為方形波形（速度相關(guān)粘性阻力）。對應(yīng)于流體流中5個捕獲（靜止）顆粒的同時測量（約45μm/s），所有波形顯示振幅約為1pN。
注：信噪比隨激光強度的增加而降低是檢測噪聲的結(jié)果，在選擇最佳信噪比和光阱剛度系數(shù)線性（相對于粒子位移）之間的激光強度時需要做出權(quán)衡。
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